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Product catalog

精密定位系統(tǒng)/平移臺

激光測量設備

2025
1.20

激光雷達領域的新秀利器—SPAD23

激光雷達領域的新秀利器—SPAD23激光雷達（LiDAR）技術以其精準的距離測量和三維建模成像能力，在多個行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。這項技術主要通過發(fā)射激光脈沖并測量這些脈沖與物體碰撞后返回的時間來工作，從而獲得高精度的空間數據。不僅能夠進行測距還能進行復雜場景的計算成像等等。激光雷達技術已廣泛應用于以下行業(yè)：地理空間測繪、考古學、自動駕駛車輛、農業(yè)、林業(yè)管理、城市規(guī)劃、災害管理、建筑和建筑管理、交互式媒體和藝術、太陽能和風能項目、軍事和國防、礦業(yè)和地質學、基礎設施和建設、大氣研...
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2025
1.20

熒光成像內窺鏡—激光技術在醫(yī)療成像與治療中的創(chuàng)新應用

熒光成像內窺鏡—激光技術在醫(yī)療成像與治療中的創(chuàng)新應用內窺鏡檢查是腫瘤學中檢測和切除并且已經逐漸成為腫瘤的腫瘤或癌前病變的特別重要的工具。內窺鏡成像通常使用正常白光進行。然而某些腫瘤在白光下可能難以檢測到，因為所有結構都被照亮，對惡性病變沒有特異性。因此，通過對患者使用特殊的熒光染料，使熒光染料優(yōu)先積聚到惡性病變中，這樣在特定波長的光被激發(fā)時，惡性組織和健康組織之間的對比度就會增加，此為熒光成像內窺鏡。熒光成像內窺鏡在醫(yī)學中的應用背景涉診斷與評估治療效果。在腫瘤檢測方面，研究顯...
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2025
1.20

成像式亮度色度計產品原理及應用介紹

成像式亮度色度計產品原理及應用介紹成像式亮度色度計工作原理：成像式亮度色度計是一種基于成像原理來進行測光和測色的測量儀器，基本結構是由視覺（或色覺）匹配的探測器（ccd或cmos）、光學系統(tǒng)以及與亮度（或三刺激值XYZ）成比例的信號輸出處理系統(tǒng)所組成。單點亮度計測試系統(tǒng)成像式亮度色度計測試系統(tǒng)亮度測試原理：根據圖利用光度學和幾何光學的原理可以推出:公式（1）式中：E-成像面上的照度;L-發(fā)光面上的亮度;τ-光學系統(tǒng)的透射比（透過率）;f-透鏡焦距;l-透鏡與發(fā)光面的距離（稱為...
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2025
1.20

解析PPLN晶體在量子技術加速商業(yè)化的關鍵作用（二）：產品應用

解析ppln晶體在量子技術加速商業(yè)化的關鍵作用（二）：產品應用非線性晶體，尤其是PPLN晶體，以其優(yōu)異的性能在量子技術領域扮演著重要角色?，F在，讓我們轉向實際應用，看看這些科研單位和公司是如何利用MgO:PPLN晶體的，并聽聽他們的評價。*本文來源于英國Covesion公司的案例研究。上海昊量光電是Covesion公司在中國地區(qū)的合作伙伴。太空認證的非線性光學堅固型量子激光器(SNORQL)銣原子磁光阱（Rb-MOT）作為下一代量子技術，可以實現超靈敏的重力測量。衛(wèi)星重力遙感...
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2025
1.17

解析PPLN晶體在量子技術快速商業(yè)化的關鍵作用（一）：應用技術

解析ppln晶體在量子技術快速商業(yè)化的關鍵作用（一）：應用技術量子技術，曾經似乎是僅存在于科幻小說中的天方夜譚，但如今逐漸深入到我們的日常中改善我們的生活。而在前端的科研領域，如量子通信和量子計算機，量子技術同樣令人興奮，影響也將越來越顯著，而非線性光學晶體（NLO）將在該技術的商業(yè)化過程中發(fā)揮關鍵作用。*本文來源于英國Covesion公司《Non-linearOpticalCrystalsUsedforQuantumTechnology》。量子技術主要這三個領域內多種應用中...
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2025
1.15

微觀世界的“量尺”：膜厚測量儀，讓每一層都盡在掌握

在這個納米級的世界里，每一層薄膜的厚度都可能決定著一個器件的性能，甚至影響整個系統(tǒng)的功能。因此，對膜厚進行精確測量成為了科研與生產中的核心環(huán)節(jié)。膜厚測量儀，作為微觀世界的“量尺”，正以其精準度讓每一層薄膜的厚度都盡在掌握之中。膜厚測量儀其核心競爭力在于“”。不同于傳統(tǒng)的測量方法，它能夠以納米級的精度對薄膜的厚度進行測量，且誤差極小。這一技術的突破，源于對光學、電子學以及材料科學等多個領域的深入研究與交叉融合。通過采用先進的測量原理，如橢偏測量、X射線熒光分析或掃描電子顯微鏡技...
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2025
1.13

膜”力無限，準確測量是關鍵：膜厚測量儀，為材料科學注入新活力

在材料科學的廣闊天地里，薄膜材料以其物理、化學性質，在電子、光學、生物醫(yī)療、能源轉換與存儲等領域展現出了無限“膜”力。從半導體芯片上的精密涂層到太陽能電池板的高效光吸收層，薄膜的質量和性能往往決定了整個系統(tǒng)的功能和效率。而在這其中，膜厚的精確測量是確保薄膜質量、優(yōu)化材料性能的關鍵步驟。近年來，膜厚測量儀的問世，正為這一領域注入了一股新的活力。傳統(tǒng)膜厚測量方法，如機械式測厚儀、光學干涉儀等，雖然在一定程度上滿足了工業(yè)生產和科研的基本需求，但在面對復雜多變、尺度微小的薄膜材料時，...
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2025
1.8

準確洞察微觀世界：膜厚測量儀，解鎖材料厚度測量的新境界

膜厚測量儀這一準確而高效的測量工具，正以其優(yōu)勢，解鎖了材料厚度測量的新境界，讓我們得以更深入地洞察微觀世界的奧秘。膜厚測量儀是一種用于測量材料表面薄膜厚度的儀器。它利用物理或化學原理，通過非接觸式或接觸式的方式，對材料表面的薄膜進行精確測量。相較于傳統(tǒng)的測量方法，膜厚儀具有更高的精度、更快的測量速度和更廣的應用范圍。無論是金屬、塑料、陶瓷還是半導體材料，膜厚儀都能輕松應對，提供準確的測量結果。在材料科學領域，膜厚測量儀的應用尤為廣泛。在半導體行業(yè)中，芯片表面的薄膜厚度直接影響...
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